车规级ECU/BMS高压蒸煮试验箱面向车载控制器与电池管理主板，用高温高压高湿加速湿气渗入，激发塑封分层、铜迁移、绝缘劣化。温湿压独立闭环，支持BHAST带电偏压，覆盖130℃/85%RH/0.23MPa等车规剖面。符合JESD22-A110、AEC-Q100/Q200、GB/T 2423.40，是车规电子准入验证关键装备

汽车电子HAST试验箱ECU专用面向发动机ECU、BMS与域控单元的车规湿热可靠性认证。温湿压三参数解耦控制，支持120℃/0.2MPa/85%RH及130℃/85%RH标准剖面，可选bHAST偏压加速电化学迁移。

车载MCU高加速温湿度应力箱即HAST设备，130℃/85%RH/2.3atm高压蒸汽数天等效数年老化，专测车规MCU封装分层、键合腐蚀与漏电流漂移。支持BHAST带偏压，非饱和控湿不结露，AEC-Q100 Grade0~3一键切换

BMS 车规电子 HAST 试验箱，专为 BMS 车规电子部件开展高加速应力可靠性测试。通过高温高压高湿的严苛环境，快速验证车载电池管理系统抗腐蚀、绝缘及耐湿热性能。设备工况可控，具备数据记录与多重安全防护，满足车规级检测要求，用于产品研发筛选与可靠性验证

ECU 高压加速老化试验箱 HAST，面向车载 ECU 开展高压加速应力老化测试。通过高温高压高湿的强化环境，快速评估 ECU 器件抗腐蚀、抗水汽渗透能力，加速暴露绝缘失效、线路劣化等隐患。设备可控性强，具备数据记录与多重安全防护，满足车载电子可靠性验证需求

HAST 加速应力箱 连接器焊盘耐湿热测试，用130℃/85%RH/约2atm不饱和蒸汽加压偏置，数天逼出焊盘电化学迁移、CAF与镀层腐蚀，替代85/85千小时长跑。圆腔316L、干湿球解耦、带偏压端子，专测板端连接器焊盘与PCB界面耐湿可靠性