半导体芯片温度冲击测试二箱式设备选型速查表——五步确认关键指标

温度范围

能否覆盖试验要求的极限温度

-40～+150℃、-55～+150℃、-65～+150℃

★★★★★

转换时间

高低温切换够不够快

≤15秒（标准），≤10秒（更优）

★★★★★

恢复时间

移入新温区后多久稳定

≤5分钟

★★★★

样品区尺寸

能不能装下你的样品

36L～225L为标准规格

★★★★

样品区承重

提篮能承受多重

20kg～50kg

★★★

温度均匀度

样品区温差大小

≤2.0℃

★★★

温度波动度

温度稳不稳定

≤±0.5℃

★★★

制冷系统

能否稳定维持低温

二元复叠式制冷，进口压缩机优先

★★★★