汽车电子高压加速老化试验箱面向车规MCU、IGBT/MOSFET、ECU模块、传感器及PCB的湿热可靠性验证，兼容HAST非饱和与PCT饱和两种模式。温湿压三参数闭环，覆盖110~156℃、65~100%RH、0.02~0.39MPa，可选带电偏压。符合AEC-Q100/Q101、JESD22-A110/A102、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，96h等效常规THB上千小时

车规电子HAST/BHAST试验箱用110~130℃、85%RH、2.3atm非饱和蒸汽，把车规IC、IGBT、PCBA的千小时湿热压缩到96~168h。带偏压测漏电流、无偏压测封装防潮，SUS316腔体+多重泄压，AEC-Q100入场件必配

AEC-Q200元件高压加速老化箱针对车规阻容感做HAST/uHAST偏压湿热加速，110~143℃、85%RH、0.2MPa，96h等效THB上千小时，验封装分层、金属腐蚀、离子迁移。圆釜SUS316、门压联锁，支持BHAST偏压端子，是AEC-Q200 Rev E群组A送鉴的主力机型

AEC-Q100芯片HAST试验箱专攻车规IC、MCU、功率器件与塑封半导体的耐湿可靠验证。非饱和蒸汽环境逼出水汽渗透、钝化层开裂与电迁移隐患，130℃/85%RH/230kPa剖面直接对标AEC-Q100 Rev-H。数百小时等效数年湿热寿命，是封测厂、车规实验室与第三方认证的加速利器。

汽车线束连接器HAST试验设备用110~130℃、85%RH、0.2MPa高压不饱和蒸汽，数天等效数年湿热老化，专测线束端子镀层腐蚀、密封件渗水、绝缘下降与CAF生长。圆筒承压腔防滴露，可带插合连接器跑偏压，车规电子出厂前必配

车规无源元件HAST试验箱面向车规MLCC、薄膜电阻、功率电感、NTC及压敏电阻的湿气渗透与电化学迁移加速验证。非饱和蒸汽+压力独立调控，跑通130℃/85%RH/96h与uHAST无偏压剖面。符合AEC-Q200、JESD22-A110/A118、IEC 60068-2-66，数百小时等效千小时车载湿热寿命