IGBT模块HAST高压加速老化箱面向车规IGBT、SiC混合功率模块及工业逆变器模组的湿热-偏压协同老化。高温高湿高压三应力耦合，支持130℃/85%RH/230kPa带偏压运行，激发键合线腐蚀、塑封分层与栅极漏电流漂移。符合JESD22-A110、AEC-Q101、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，百小时等效千小时双85

节气门传感器HAST试验设备面向节气门位置传感器、踏板开度传感器及车载电位式传感元件的耐湿耐热加速验证。温湿压三参数解耦，130℃/85%RH/0.26MPa典型剖面可等效85℃85%RH千小时老化。符合JESD22-A110、AEC-Q100、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，适配 Tier1 供应商车规导入与失效分析。

轮速传感器高压加速老化箱面向磁电式、霍尔式、磁阻式轮速传感器及ABS/ESP探头，用105~143℃、65~100%RH、0.02~0.3MPa复合应力，加速密封胶老化、插针腐蚀、磁钢退磁与灌封分层。符合JESD22-A110、AEC-Q100/Q200、GB/T 2423.40及IEC 60068-2-66，数十小时等效千小时湿热寿命，适配Tier1 DV/PV与车厂来料筛查

氧传感器HAST湿热老化试验箱面向氧化锆/氧化钛氧传感器、宽频氧探头及加热型传感器总成。温湿压三参数解耦，加速透气膜吸潮、铂电极腐蚀、参考气室漂移与引脚爬电。符合JESD22-A110/A118、IEC 60068-2-66、GB/T 2423.40及AEC-Q100思路，数十小时逼近车规长周期湿热失效

MAP传感器高加速应力试验箱面向进气歧管绝对压力（MAP）传感器、胎压TPMS及车规MEMS压力芯片的湿热腐蚀与封装分层加速验证。温湿压偏四参数闭环，支持130℃/85%RH/2.3atm BHAST标准剖面，带电监测漏电流。符合AEC-Q100/Q103、JESD22-A110、GB/T 2423.40及IEC 60068-2-66，数十小时等效千小时湿热老化，是MAP厂车规认证的核心设备

汽车传感器HAST高压老化箱面向车规压力/温度/位置传感器、MEMS惯性单元及连接器密封件防潮考核。温湿压三量解耦，110℃/130℃、85%RH、0.12~0.26MPa多段编辑，支持偏压在线测漏电流。符合JESD22-A110/A118、IEC 60068-2-66、AEC-Q100/Q200，数天等效千小时双85湿热