车规连接器HAST高压老化箱用110~130℃、70~85%RH、0.1~0.23MPa非饱和蒸汽，几十小时逼出数年湿热失效：镀层迁移、塑壳水解、端子绝缘掉档。圆腔承压、无凝露、可带偏压，专跑AEC-Q与JESD22车规接插件可靠性

HAST 试验箱单门基础款，100~132℃、75~100%RH、最高3.5atm饱和/不饱和蒸汽，专做IC封装、PCB、连接器数天等效数年湿热老化。单门结构占地小、补纯水便捷，PID+压力双控，适半导体封测与实验室小批量筛查

HAST试验箱定制面向半导体封装、车规IC、光伏接线盒及多层PCB的湿气渗透与电化学迁移加速验证。采用温湿压三参数独立闭环，构建105℃~143℃、65%~100%RH、0.02~0.3MPa非饱和高压环境，支持带电偏压测试。符合JESD22-A118、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，数十小时等效数千小时自然老化，是可靠性实验室的核心加速装备