HAST试验箱定制面向半导体封装、车规IC、光伏接线盒及多层PCB的湿气渗透与电化学迁移加速验证。采用温湿压三参数独立闭环，构建105℃~143℃、65%~100%RH、0.02~0.3MPa非饱和高压环境，支持带电偏压测试。符合JESD22-A118、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，数十小时等效数千小时自然老化，是可靠性实验室的核心加速装备

高加速稳态湿热试验箱非饱和高压环境：与传统的饱和蒸汽老化试验不同，非饱和环境能更有效地模拟实际湿热条件，避免因表面结露导致的局部过度老化。 三种控制模式：支持干湿球控制、非饱和蒸汽、饱和蒸汽三种工作模式，适应多样化的测试方案需求。 高精度控制：温度波动度±0.5℃，温度均匀度±2.0℃，控制精度温度±0.5℃、湿度±2.5%～±3%RH。

高压加速老化试验箱，专为电子元器件、半导体、集成电路、PCB、连接器、光伏组件及新材料等领域的可靠性测试而设计-。该设备通过精准模拟并强化高温、高压、高湿（非饱和）等多重环境应力，将真实世界中数年甚至数十年的自然老化过程，加速至数百小时内完成-