HAST 试验箱相对湿度 85‑100% RH为高压加速老化试验箱（HAST），相对湿度范围85～100%RH，温度最高可达142℃，饱和蒸汽压力环境可大幅缩短产品寿命试验周期。采用SUS316不锈钢高压腔体，配备安全联锁装置与7英寸触控系统，精准模拟高温高湿高压工况，是半导体封装、集成电路、连接器等企业进行可靠性验证与失效分析的理想设

HAST温度 105‑132℃试验箱把高温高湿高压三应力叠进圆筒高压腔，去离子水盘电加热生蒸汽、外气源补压可选。门压联锁未归零锁死，缺水超温超压三重断电器。适配UHAST无偏压与B-HAST带电端子选配，车规AEC-Q100前置老练不占地产线

高加速应力试验机面向IC、分立器件、功率模块的uHAST与HAST批量验证，单层放老化板单层放托盘对比。SUS316L内胆抗Cl离子腐蚀，自动补水防干烧，触屏编温压程式，RS232出曲线，实验室占地紧凑

HAST 试验箱单门基础款，100~132℃、75~100%RH、最高3.5atm饱和/不饱和蒸汽，专做IC封装、PCB、连接器数天等效数年湿热老化。单门结构占地小、补纯水便捷，PID+压力双控，适半导体封测与实验室小批量筛查

HAST 试验箱多段程序 + 压力可控高配款面向半导体封装、车规IC、PCBA及光伏接线盒的湿气渗透与电化学迁移加速验证。温湿压三参数独立闭环，支持105~143℃、65~100%RH、0.02~0.3MPa多段程式编辑，非饱和不结露。符合JESD22-A110/A118、IEC 60068-2-66、GB/T 2423.40，数十小时等效数千小时自然老化

HAST高压加速老化试验箱在SMC系列温湿平台上升级圆筒耐压腔与蒸气压力闭环，构建105~147℃、最高0.3MPa表压的非饱和高压湿热环境，把常规85/85试验千小时量级压缩至数十小时。设备配SUS316内胆、钛管蒸汽发生、干湿球+压力三参独立控，贴合JESD22-A110、IEC60068-2-66与GB/T2423.40，适用于集成电路、封装件与高分子材料防潮加速验证