晶振光耦高压加速老化试验箱做130℃/85%RH/230kPa非饱和HAST与121℃饱和PCT，专拷晶振频偏、光耦CTR衰减、引脚腐蚀与封装分层。支持B-HAST带偏压、U-HAST无偏压，不锈钢压力容器+自动泄压，半导体封测与车规来料快筛用

贴片电阻HAST湿热老化试验箱面向0402/0603/0805等片式电阻、厚膜/薄膜电阻及排阻的耐湿可靠性筛选。高温高压非饱和蒸汽加速水汽沿端电极界面向陶瓷基体渗透，考核端头氧化、阻值漂移、开路与电化学迁移。符合JESD22-A110/A118、IEC 60068-2-66、GB/T 2423.40，96h等效长期湿热老化

车规电容HAST高加速应力试验箱面向车规MLCC、铝电解、薄膜及钽电容的防潮与电化学迁移验证。温湿压稳态耦合，支持130℃/85%RH/230kPa带偏压运行，96h等效85/85千小时级应力。符合JESD22-A110、A118、IEC 60068-2-66及AEC-Q200，是电容厂车规认证与失效分析的关键设备

MLCC高压加速老化试验箱HAST面向多层陶瓷电容车规认证与来料可靠性筛查，用高温高压湿热快速激发介质漏电、端电极腐蚀与镍屏障退化。温湿压独立联控，支持130℃/85%RH/230kPa标准剖面与偏压监测。符合JESD22-A110、JESD22-A118、AEC-Q200及GB/T 2423.40，把千小时湿热寿命压缩到百小时级

IGBT模块HAST高压加速老化箱面向车规IGBT、SiC混合功率模块及工业逆变器模组的湿热-偏压协同老化。高温高湿高压三应力耦合，支持130℃/85%RH/230kPa带偏压运行，激发键合线腐蚀、塑封分层与栅极漏电流漂移。符合JESD22-A110、AEC-Q101、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，百小时等效千小时双85

节气门传感器HAST试验设备面向节气门位置传感器、踏板开度传感器及车载电位式传感元件的耐湿耐热加速验证。温湿压三参数解耦，130℃/85%RH/0.26MPa典型剖面可等效85℃85%RH千小时老化。符合JESD22-A110、AEC-Q100、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40，适配 Tier1 供应商车规导入与失效分析。