AEC-Q200元件高压加速老化箱
用途
本设备面向车规无源元件的AEC-Q200认证前验证，覆盖MLCC、铝/钽电解电容、厚膜/薄膜电阻、电感磁珠、NTC/PTC热敏电阻、压敏电阻、晶振及EMI滤波器（对应标准Table 1~16）。核心任务是把85℃/85%RH 1000h的THB偏湿试验，压缩成110~130℃高压非饱和工况的数十至数百小时，加速暴露塑封体分层、端电极腐蚀、绝缘电阻下降、金属离子迁移四类失效。一机兼容BHAST（有偏压）、uHAST（无偏压）、PCT（高压蒸煮）三种模式，覆盖AEC-Q200群组A的PC、THB、HAST、UHST、TH全部湿热应力项，服务元件厂DV/PV、Tier1来料筛选、第三方实验室送鉴三类现场。
使用说明
触屏编多段程，典型BHAST走130℃/85%RH/20psig/96h、uHAST走110℃/85%RH/14psig/264h，偏压经侧壁高压穿心端子接入样品板，串6.8kΩ限流电阻。试样贴装于镀金测试板悬空排布，禁叠放、禁堵蒸汽通道；加湿仅用纯水。运行结束须自然泄压至常压、温度回室温方可开门，杜绝凝露假性失效与釜压伤人。系统自动记T/P/RH曲线，支持断电续跑。
安装调试方法
落位平整承重地基，周留≥80cm，环境5~35℃、湿度≤85%RH；供380V三相五线独立空开。开箱清点→就位调平→接纯水与溢排、压力泄放管→通电空载→按GB/T 5170.5校温场，按JESD22-A110校130℃/85%RH/20psig工况点→带MLCC样品板跑96h看漏电流与容值漂移→出调试单。日常紧釜口O圈、清加湿锅炉水垢、校铂电阻与压力表，门联锁每季功能测试。
满足标准
车规核心：AEC-Q200 Rev E（群组A：PC/THB/HAST/UHST/TH）；JEDEC：JESD22-A101（THB）、JESD22-A102（PCT）、JESD22-A110（HAST）、JESD22-A118（uHAST）；国际：IEC 60068-2-66、GB/T 2423.40；：MIL-STD-202 Method 103/108、MIL-STD-883 Method 1004；封装关联：J-STD-020（MSL）。空载温度均匀度≤±2℃、湿度偏差≤±3%RH、压力控制±0.02MPa，带载连续运行数据可追溯，满足车规元件从Grade 0到Grade 3各等级湿热应力工况复现。
AEC-Q200元件高压加速老化箱
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