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产品分类CLASSIFICATION
200L 两箱冷热冲击箱 平衡调温BTC 控制系统,用高温槽+低温槽蓄能、提篮往复切换,≤10s转槽、-40~150℃冲击。BTC以PID控SSR让加热量等于热损耗,长稳运行。测芯片、车电、传感器焊点脱焊与开裂,适研发筛选与第三方例试
64L 三箱冷热冲击箱 -40~150℃环境冲击测试,分高温/低温/测试三区,风门切换≤10s,样品静置不受振,专测芯片、PCB、车用电控、锂电小模组在骤冷骤热下的焊裂、脱层、参数漂移。64L小容积适研发台架与产线抽检,程控循环、USB出曲线
台式小型冷热冲击箱 可编程多段温度循环,放实验台即可跑-40~150℃两区/三区冲击,多段程控存百组曲线,验芯片、传感器、接插件热胀冷缩开裂。占地小、省电、转样快,研发桌边与来料快筛都合适
150L 风冷冷热冲击试验箱 波动度≤±0.5℃,采用风冷式制冷与提篮转换结构,实现高温区与低温区快速切换,温度波动度≤±0.5℃。适用于电子元器件、半导体、汽车电子等产品的温度冲击与热疲劳测试,有效暴露材料开裂、焊点失效等潜在缺陷
80L 三箱式冷热冲击箱 -55~150℃可编程控制,采用高温区、低温区与测试区三箱独立结构,样品静止不动,通过风门切换实现冷热气流交替冲击。支持可编程循环控制,适用于电子元器件、芯片封装、汽车零部件等产品的热胀冷缩耐久性验证与失效筛选
冷热冲击试验箱整流桥堆高温筛选专做整流桥堆、二极管阵列的极温瞬切筛查。-55℃↔+150℃快速切换,逼出内部焊层微裂、引脚脱焊、反向漏电流漂移、单向导通退化。小腔多架放SMA/SMB/GBJ桥堆,配参数测试仪接口,依GB/T 2423.22、JESD22-A104、GB/T 4937.1,适配电桥来料筛与电源厂品控