台式小型冷热冲击箱 可编程多段温度循环
用途
本设备面向小体积样品的快速温冲与多段温变：半导体IC、BGA、PCB样片、车规传感器、手机摄像头模组、纽扣电池、塑料卡扣与胶接点，在高温区（+60~150℃）与低温区（-40~-10℃）间按两箱吊篮或三箱风门切换，模拟极地—机舱—回流焊的骤变应力，暴露虚焊、脱层、陶瓷裂纹、密封失效。多段程控支持“冲击段+恒温段+缓变段"混编，一台兼做冷热冲击与温度循环（如-40℃↔85℃@3℃/min循环50次），覆盖桌边研发验证、IQC小批快筛、失效复现三类场景。
使用说明
触屏进程序模式，建段时填目标温、驻留时间、升降温斜率、循环数；两箱机点启动后吊篮自动换位（≤10s），三箱机切风门。样品装不锈钢篮不叠压，占容≤1/3，禁挡出风口；带电器件经穿墙端子取电。运行中可暂停跳段，掉电续跑；结束回25℃再开门防凝露与冷灼伤。曲线USB导出，超温硬保护动作后手动复位。
安装调试方法
置实验台/小推架，周留≥50cm，环境5~35℃、湿度≤85%RH；供220V或380V按机型，独立空开接地。开箱清点→就位调平→通电空载→按GB/T 5170.2校高温区、低温区、测试区三点→编一段-40↔85℃冲击+一段25→85→-40循环各跑1次看切换与斜率→出调试单。日常清滤网、校PT100、查压缩机延时、紧门封。
满足标准
温度冲击：GB/T 2423.22（eqv IEC 60068-2-14）、GJB 150.5A；设备本体：GB/T 10592、GB/T 5170.2；温度循环引用GB/T 2423.22 Nb、JESD22-A104、AEC-Q100；汽车电子：ISO 16750-4、LV 124；锂电：GB/T 31241。温度转换时间两箱≤10s、三箱≤30s，恢复≤5min，均匀度≤±2℃，满足小样冷热冲击与多段温变程序复现。
台式小型冷热冲击箱 可编程多段温度循环
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