64L 三箱冷热冲击箱 -40~150℃环境冲击测试
用途
本设备面向需承受温度骤变的中小型试样：半导体芯片、PCB线路板、片式电容电阻、连接器、LED灯珠、车载传感器、ECU小板、锂电电芯小样、塑胶密封件及胶粘接头，在高温区（+150℃蓄温）与低温区（-40℃蓄温）间通过气动风门切换，向静置的测试区灌入极值气流，考核热胀冷缩引发的焊点微裂、封装分层、基板翘曲、密封失效与电气参数偏移。三箱结构令样品不随篮移，免机械振动干扰，覆盖电子厂来料应力筛选、汽零厂ECU冷启动验证、检测实验室小样定型三类场景。
使用说明
触屏编程：设高温停留、低温停留、循环数与冲击间隔，典型跑-40℃(30min)↔150℃(30min)、风门切换≤10s、恢复≤5min。试样置测试区不锈钢架，限重按铭牌（64L常≤5kg），禁堵风道；带电器件经Φ50mm引线孔接外电源与采集仪。运行中不可开测试门，防串温；程序完结回常温再取件。支持断电续跑，U盘导温度曲线。
安装调试方法
室内平整承重≥500kg/㎡，周留≥60cm（背部≥80cm），环境5~35℃、湿度≤85%RH，远热源与强电磁；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω。就位调平→通电空载→按GB/T 5170.2校高/低温区与测试区九点温度→实跑-40℃↔150℃一循环看切换时间与恢复→出调试单。维护清冷凝器网、校PT100、查门封与冷媒压。
满足标准
样品试验：GB/T 2423.1/2/22（eqv IEC 60068-2-1/2/14）、GJB 150.5A、MIL-STD-810H方法503、JESD22-A104、ISO 16750-4；设备条件：GB/T 10592、GB/T 11158、GB/T 10589、GB/T 5170.2；计量：JJF 1101。空载测试区温度均匀度≤±2℃、波动度≤±0.5℃、恢复时间≤5min，满足64L小样在-40~150℃三箱冲击下的环境适应性复现。
64L 三箱冷热冲击箱 -40~150℃环境冲击测试
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