Product Center

产品中心

当前位置:首页  >  产品中心  >  冷热冲击试验箱  >  

  • TSD-225F-2P225L冷热冲击试验箱 东莞厂家直销

    225L冷热冲击试验箱 东莞厂家直销用三箱储温风门切换,把样品在-40~+150℃间几秒切换,拷问电子件热胀冷缩开裂、脱焊、参数漂移。225L可放整机小模组,东莞厂直发、有现货、可谈价格,适配GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、GJB 150.5,汽电、PCB、连接器来料筛选用

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSD-225F-2P
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-150F-3P150L冷热冲击试验箱现货供应

    150L冷热冲击试验箱现货供应用两箱吊篮或三箱风门,把样品在-40~+150℃间≤10秒切换,5分钟内恢复。专筛电子件、连接器、PCB热胀冷缩开裂脱焊。150L标机仓内有货,可发样品即刻试冲击,适配GB/T 2423.22、GJB 150.5、IEC 60068-2-14

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSD-150F-3P
    厂商性质:生产厂家
  • TSC-150F-2P汽车配件冷热冲击试验箱

    汽车配件冷热冲击试验箱专做ECU、传感器、车灯、密封条、内饰件极速温变筛查。高温区+150℃、低温区-65℃,提篮/风门切换≤10秒,逼出焊点裂纹、胶层脱粘、外壳开裂。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、ISO 16750,适配车厂来料与车规认证

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSC-150F-2P
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-150F-2PBGA冷热冲击试验箱

    BGA冷热冲击试验箱专做BGA封装、QFN、CSP等微电子器件热胀冷缩应力筛选。两箱提篮或三箱风门切换,‑65℃↔+150℃数秒转区,逼出焊球开裂、基板分层、封装界面脱粘。样品可静置于测试区,适配GB/T 2423.22、GJB 150.5、JESD22-A104,封测厂与芯片可靠性实验室常用

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSD-150F-2P
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-49F-3P半导体冷热冲击试验箱

    半导体冷热冲击试验箱专做芯片、SiC功率模块、BGA、车规MCU的极速温变筛查。高温区+60~+200℃、低温区-10~-65℃,风门切换≤10s,逼出封装分层、焊球开裂、热疲劳。样品可静止不移动,带电引线测开机时序,适配JESD22-A104、GB/T 2423.22、AEC-Q100

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSD-49F-3P
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-480F-2P电子元器件冷热冲击试验箱

    电子元器件冷热冲击试验箱专做电阻、电容、晶振、MCU、光耦等小元件瞬间温变筛查。高温区+60~+150℃、低温区-55~-10℃,切换≤10s,恢复≤5min,逼出封装开裂、焊端脱离、参数漂移。适配GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、GJB 360B,是电子厂来料检与失效分析台

    更新日期:2026-10-14
    型号:TSD-480F-2P
    厂商性质:生产厂家
共 163 条记录,当前 13 / 28 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
欢迎您的咨询
我们将竭尽全力为您用心服务
1585328151
扫码加微信
版权所有 © 2026 广州皓天检测设备有限公司  备案号:粤ICP备2026122990号  技术支持:仪表网  管理登陆  sitemap.xml

TEL:18124920050

扫码加微信