电子元器件冷热冲击试验箱
性能
不靠“慢慢升降温"，而是把元件在极热极冷间瞬切：试品在高温区存温后，经提篮或风门在≤10s转入低温区，让塑封体、端电极、内部键合遭热胀冷缩突变，提前暴露分层、裂纹、漏电流变大等潜伏缺陷。
支持两箱提篮式（元件随篮动）与三箱静止式（风门切流，元件不动，减机械应力），驻留10min~9999min、循环1~9999次可编；可跑-40℃↔+125℃车规循环，也可跑0℃↔+100℃消费电子快速筛。
重点盯元件电参：阻值漂移、电容损耗角、晶振频偏、光耦CTR；不是只记“有没有坏"。小托盘放几百颗同批件，失效率统计有样本。
系统
箱体：内胆SUS304满焊，外箱A3喷塑，聚氨酯+玻纤保温；两箱式高温/低温室上下排，气缸提篮换区；三箱式加独立测试区，气动风门切高低温气流，试品静止。
温场：高温用电热丝，低温用泰康/谷轮压缩机+二元复叠R404A/R23蓄冷，预冷预热槽常备能量，切换时风机强抽气流换温；波动≤±0.5℃、均匀≤2℃、偏差≤±2℃。
样品接口：侧Φ25/Φ50mm密封引线孔，元件可外接LCR表/程控电源做“冲击中不停测"；凝露水不滴样面。
控制：威硕7寸触控+PLC，多段程式、断电续跑、USB/以太网出曲线，中英文切换，PID自整定。
安全：超温、压缩机高低压、风机过流、漏电、门互锁、气动失压锁止，顶部三色报警。
技术参数
结构：两箱提篮式 / 三箱静止式（不写两箱式标注）
容积：50L / 72L / 100L / 150L（电子元件小架专用）
高温区：+60~+150℃（可扩+200℃）
低温区：-10~-55℃（可选-65℃/-80℃）
冲击范围：-55~+150℃
转换时间：≤10s（两箱提篮/三箱风门切流）
恢复时间：≤5min
温度波动≤±0.5℃ / 均匀≤2℃ / 偏差≤±2℃
驻留：10min~9999min；循环：1~9999次
引线孔：Φ25/Φ50mm密封孔
控制：威硕7寸触控，多段程式、断电续跑
供电：AC380V±10% 50Hz 三相五线
噪音：≤68dB(A)
压缩机：泰康/谷轮，冷平衡2.0节能约30%
标准：GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、GJB 150.5A、GJB 360B、MIL-STD-883
电子元器件冷热冲击试验箱
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