225L 提篮式冷热冲击箱 快速温变冲击试验机
用途
本设备面向电子电器零组件、半导体IC/BGA、PCB/PCBA、汽车传感器与ECU、新能源电芯模组、金属与高分子材料，在两箱提篮结构下借气动缸把试样于预存高温槽（+150℃）与低温槽（-40℃/-65℃）间快速转移，做温度冲击、环境应力筛选与快温变循环，考核焊点热疲劳、封装微裂、胶层脱粘、液晶屏起雾、电池极耳变形。225L容积兼顾单板模组与小总成，覆盖元器件厂出货冲击、Tier1车规筛选、实验室可靠性摸底三类场景。
使用说明
触屏编程：设高温槽/低温槽定值、样品停留时间、转换时间（≤15s）、循环数；提篮装不锈钢网架，样件总重≤标称负载2/3，禁超栏高、禁堵风道。运行前确认两槽达稳温，启动后由气缸自动提篮切换，转换中禁开门。每周期完可经侧引线孔接外载测实时电参；停机后提篮回常温槽，腔体冷却再取件。可USB存温时曲线，支持断电续跑。
安装调试方法
落位平整承重地面（≥800kg/㎡），周留≥80cm、顶留≥100cm散热，环境5~35℃、湿度≤85%RH，避阳光与振源；380V三相五线独立空开，接地电阻≤4Ω。开箱清点→调平→接气源（驱动提篮）→通电空载→按GB/T 5170.2校高/低温槽九点温度→实测提篮转换时间≤15s与恢复时间≤5min→带假负载跑3循环看均匀度→出调试单。日常清滤网、校铂电阻、润导杆、查门封。
满足标准
GB/T 2423.1/2/22、IEC 60068-2-1/2/14、GB/T 10589/10592、GB/T 5170.2、GJB 150.3A/4A/5A、GJB 360B、MIL-STD-202G Method 107、MIL-STD-810H、JESD22-A104、IPC-TM-650 2.6.6、AEC-Q100/Q200。空载温度均匀度≤±2℃、波动≤±0.5℃、转换≤15s、恢复≤5min，满足电子、车规、军工样件在极温骤变下的热冲击复现。
225L 提篮式冷热冲击箱 快速温变冲击试验机
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