两箱式冲击试验箱功率器件验证，内箱SUS304，100mm聚氨酯保温层。泰康压缩机+R404a/R23，冷平衡2.0节能，冷量伺服阀PWM调节，温变响应快

三箱式冷热冲击试验箱半导体晶圆温变，定值/程式双运行，USB一键导出曲线。φ100mm引线孔方便晶圆通电测试，等温层防滴露，专为半导体晶圆温变冲击设计

提篮式冷热冲击试验箱工控主板分层用提篮在高低温槽间瞬移，做-40℃↔+85℃极温切换，专拷问工控主板PCB层间剥离、BGA焊点微裂、孔壁断裂。样品随提篮走，驻留末段可通电读开机/网口/串口，依GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、IPC-9701，是工控厂主板来料与失效复现设备

三箱式冲击试验箱胎压传感器开裂测试采用高/低/测试三区静态结构，胎压模块固定不动，靠气动风门切冷热气流做-40℃↔85℃极速冲击，暴露塑封CTE失配、焊点疲劳与壳体微裂。配SUS304内胆、蓄热蓄冷双仓、PID程式控，贴合ISO 16750-4、IEC60068-2-14与AEC-Q103，适用于TPMS研发摸底与产线批次开裂筛选

可程式高低温冲击箱射频模组漂移测试采用三箱式静态腔，模组固定不动靠风门切高低温气流，规避吊篮振动对射频电路干扰。-70~150℃宽域冲击，转换≤10s、恢复≤5min，程控驻留与循环次数，贴合GB/T2423.22、IEC60068-2-14与JESD22-A104。在冲击中留Φ引线法兰接VNA，抓功放增益、频偏、回损瞬态漂移，适用于5G模组与车载射频单元加速筛选

三箱式冷热冲击试验箱晶振光耦漂移测试采用高低温蓄能区与中间静止测试区分离结构，靠气动风门切流完成-40~150℃骤变，样品不位移、零机械振动。测试区留多路引线法兰，可边冲边测晶振频率与光耦CTR漂移，贴合IEC60068-2-14、JESD22-A106与GB/T2423.22，适用于通信晶振、车规光耦做温度剧变下的参数稳定性筛查