广皓天车规 Flash 冷热冲击试验箱，采用三箱式伺服风门切换结构，闪存芯片全程静置测试，规避机械振动带来的样品损伤。模拟车载复杂骤变温场，检验存储芯片封装、焊盘、存储阵列耐受温度交变应力能力，筛查数据丢包、封装脱层、电气失效隐患，适配车规闪存可靠性验证，支持试验条件定制。

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