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AFE 模拟前端冷热冲击试验箱
简要描述:

广皓天 AFE 模拟前端冷热冲击试验箱采用吊篮移动式两箱结构,面向 AFE 模拟前端芯片开展温度交变可靠性验证。复刻车载、工业场景温度骤变工况,检测芯片封装、引脚、内部电路在反复冷热切换下的性能变化,及时暴露出参数偏移、封装开裂、焊点失效等隐患,适配车规级测试需求,支持非标定制。

  • 产品型号:TSD-150F-3P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2026-08-24
  • 访  问  量:39

详细介绍

品牌广皓天温度范围-70~150℃
温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤ 2℃%
湿度范围20~98%RH(可任意设定)% R.H额定电压380V
产地国产加工定制

广皓天 AFE 模拟前端冷热冲击试验箱

用途

用于 AFE 模拟前端芯片、信号采集芯片等半导体器件的冷热冲击可靠性验证,考核器件在快速交替高低温环境下电气性能稳定性,验证封装、引脚、内部电路耐受温度交变应力的能力,在研发摸底、批次来料检验、成品可靠性验证环节均可使用。

箱体结构与材质

外箱:冷轧钢板静电喷塑,耐腐蚀抗刮擦内箱:SUS304 不锈钢,圆角设计无尘易清洁保温层:高密度聚氨酯 + 玻璃纤维复合,厚 100mm提篮 / 隔板:不锈钢镂空式,承重≥30kg

技术参数

高温区温度:+60℃ ~ +150℃

低温区温度:-55℃ ~ -10℃

冲击温度范围:-40℃ ~ +125℃

温度转换时间:<10 秒(样品未负载情况下)

温度恢复时间:<5 分钟

温度波动度:≤±0.5℃

控制精度:≤±2.0℃

设备使用环境温度:5℃~35℃

环境相对湿度:≤85% RH

冷却水温:≤30℃

供水压力:0.25~0.4MPa

样品限制:禁止试验易燃、爆炸、易挥发、腐蚀性、生物试样、强电磁发射源试样

广皓天 AFE 模拟前端冷热冲击试验箱

应用领域

半导体芯片企业、车规器件研发实验室、汽车电子零部件厂商、第三方检测机构、工业信号采集模块生产质检部门,主要针对 AFE 模拟前端及同类信号处理芯片可靠性试验。



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