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PMIC 电源管理芯片冷热冲击试验箱
简要描述:

广皓天 PMIC 电源管理芯片冷热冲击试验箱,采用吊篮移动式两箱结构,针对 PMIC 电源管理芯片开展温度交变可靠性验证。模拟车载、工控场景温度骤变工况,考核芯片封装、焊盘、基板耐受性能,排查分层、虚焊、电源参数漂移等失效,满足 AEC‑Q100 车规测试要求,支持工装与设备配置非标定制。

  • 产品型号:TSB-225F-3P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2026-08-21
  • 访  问  量:38

详细介绍

品牌广皓天温度范围-20~150℃
温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤ 2℃%
湿度范围20~98%RH(可任意设定)% R.H额定电压380V
产地国产加工定制

广皓天 PMIC 电源管理芯片冷热冲击试验箱



技术参数

环境温度:5~35℃

相对湿度:≤85% RH

循环冷却水温:≤30℃

冷却水供水压力:0.25~0.4MPa

高温区温度:+60℃~+200℃

低温区温度:‑10℃~‑70℃(可选‑10℃~‑80℃)

高温冲击温度范围:+60℃~+150℃

低温冲击温度范围:‑10℃~‑55℃(可选‑10℃~‑65℃)

温度分布均匀度:≤2.0℃

温度恢复时间:≤5min

控制器:7 英寸高清触摸屏,支持多组试验程序存储、编辑、锁定

数据功能:USB 数据导出、试验曲线回放、远程通讯对接

运行模式:冷热冲击模式、恒温常驻模式

供电电源:380V/50Hz 三相五线制

试样承载:支持定制载重与 PMIC 专用工装夹具

PMIC 电源管理芯片冷热冲击试验箱

温度控制系统

搭载 7 英寸工业触控控制器,PID 闭环温控逻辑,可编辑多段冷热冲击程序,自定义高低温驻留时长、循环次数、切换时序。支持 USB 导出试验记录与曲线,预留上位机通讯接口,实现远程监控与完整数据追溯。配置独立超温保护回路,程序参数可锁定,规避人为误操作,保障 PMIC 芯片试验条件统一,测试数据具备可复现性。

制冷系统

采用复叠式制冷机组,稳定实现设备低温区间运行,满足 PMIC 电源芯片大温差冷热冲击测试需求。压缩机配备高低压保护、延时启动保护,降低启停损耗,支持长时间不间断循环试验。制冷回路模块化分区排布,局部检修无需整机断电,方便设备维护保养。

加湿系统

本机核心完成温度冲击测试,加湿模块属于选配;选配蒸汽加湿组件,配置外置补水箱,水位实时监测,缺水自动报警。可实现温湿度复合冲击工况;单纯冷热冲击测试场景,可直接关闭加湿单元。

风道系统

高低温腔体分别配置独立循环风道与大功率离心风机,腔内气流充分循环换热。吊篮切换到位后,气流均匀包裹 PMIC 试样,消除腔体温场死角,保证多颗芯片承受一致冷热冲击应力,降低试验离散偏差,提升测试重复性。

工作原理

设备具备相互独立的高温腔体与低温腔体,PMIC 电源管理芯片放置在不锈钢吊篮内部,传动机构带动吊篮快速在两个温区之间移位切换。模拟车载、工控设备高温暴晒、低温冷启动带来的温度骤变,芯片反复承受热胀冷缩应力,加速显现封装分层、焊盘虚焊、引脚开裂、电源输出参数漂移等潜在缺陷,完成可靠性验证。

广皓天 PMIC 电源管理芯片冷热冲击试验箱


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