广皓天功率 MOSFET 冷热冲击试验箱
用途
主要用于功率MOSFET、分立功率器件、半导体芯片模组的冷热冲击可靠性检测。通过高低温快速交替循环，考核器件焊层、基板、引脚及封装胶体的抗热胀冷缩疲劳能力，有效筛查界面分层、焊层开裂、电气参数漂移等潜在缺陷，适用于半导体产品研发验证、型式试验、出厂批次质量筛查。
箱体结构与材质
外箱：冷轧钢板静电喷塑，耐腐蚀抗刮擦，长期使用不易磨损变色。内箱：SUS304不锈钢，圆角设计，无尘易清洁，耐高低温交变腐蚀。保温层：高密度聚氨酯+玻璃纤维复合保温结构，有效阻隔冷热能量流失，温场稳定性优异。提篮/隔板：不锈钢镂空式结构，承重性能优异，支持非标定制。观察窗：三层中空电加热防雾玻璃，搭配LED内腔照明，试验状态清晰可视。门封：优质硅橡胶密封条，耐高低温老化，保障腔体密闭性。
整机采用两箱吊篮移动式结构，独立高温、低温分区布局，通过电动吊篮带动试样快速完成腔体切换，箱体预留多组密封引线孔，可满足功率器件带电测试需求，可搭配半导体专用测试载具使用。
技术参数
使用环境条件环境温度：5～35℃相对湿度：≤85%RH循环冷却水温：≤30℃冷却水供水压力：0.25～0.4MPa
温度性能参数高温区温度：+60℃~+200℃低温区温度：-10℃~-70℃（可选-10℃~-80℃）高温冲击温度范围：+60℃~+150℃低温冲击温度范围：-10℃~-55℃（可选-10℃~-65℃）温度分布均匀度：≤2.0℃温度恢复时间：≤5min
设备配置参数控制器：7英寸高清触摸屏，支持多组程序编辑存储数据功能：USB数据导出、远程通讯对接、曲线回放运行模式：冲击模式、恒温模式供电电源：380V/50Hz三相五线制试样载重：支持非标定制
样品限制本设备禁止易燃、爆炸、易挥发性物质、腐蚀性物质、生物试样、强电磁发射源试样的试验及储存。
备注：可根据客户实际测试需求，非标定制设备配置与试验方案。
广皓天功率 MOSFET 冷热冲击试验箱
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