广皓天 IGBT 功率模块冷热冲击试验箱，面向功率半导体器件开展温度交变可靠性测试。试样通过吊篮在高低温腔体快速切换，模拟器件工作环境温度骤变，考核基板、焊层、引脚耐受能力，筛查脱焊、分层、参数漂移等失效，满足车规、半导体相关测试规范，支持腔体、载具工装非标定制。

 广皓天 IGBT 功率模块冷热冲击试验箱

用途

用于 IGBT 功率模块、MOS 管、功率半导体器件、功率模组的冷热冲击可靠性检测。考核器件在高低温快速交替条件下，芯片焊层、DBC 基板、引脚、封装胶体的抗热胀冷缩能力，识别焊层开裂、界面分层、引脚虚焊、电参数漂移等失效问题，适用于研发验证、型式试验、批次可靠性筛查。

箱体结构与材质

外箱：冷轧钢板静电喷塑，耐腐蚀抗刮擦

内箱：SUS304 不锈钢，圆角设计无尘易清洁

保温层：高密度聚氨酯 + 玻璃纤维复合，厚 100mm

提篮 / 隔板：不锈钢镂空式，承重≥30kg（可定制）

观察窗：三层中空电加热防雾玻璃，LED 内腔照明

门封：硅橡胶密封条，耐高低温老化

整机为两箱吊篮移动式结构，独立高温、低温腔体，电动吊篮承载 IGBT 功率模块完成腔体切换。箱体预留多组密封引线孔，配套硅胶密封堵件，可供功率模块采样、测试线束穿出，可加装半导体器件专用载具工装。

技术参数

温度范围： 高温箱：+60℃ ~ +150℃；低温箱： -10℃ ~ -55℃（或更低）

冲击范围： -40℃ ~ +125℃

温度转换时间： <10 秒（样品未负载情况下）

温度恢复时间： <5 分钟

温度波动度： ≤±0.5℃

控制精度： ≤±2.0℃

内箱材质：SUS304 不锈钢

控制器：7 英寸高清触摸屏，多组程序存储

数据功能：USB 导出、远程通讯对接

运行模式：冲击模式、恒温模式

供电电源：380V/50Hz 三相五线制

试样载重：≥30kg（可定制）

辅助配置：三层中空电加热防雾观察窗、LED 内腔照明、密封引线孔、器件专用载具工装

温度控制系统

搭载 7 英寸工业触控控制器，PID 闭环调控逻辑，可编辑多段冲击试验程序，设置高温驻留时长、低温驻留时长、循环执行次数。

USB 接口支持导出试验曲线和运行记录，预留通讯接口对接上位机，实现远程监控与数据回溯。

设置独立超温保护回路，规避温度异常损伤半导体试样；程序参数支持锁定，规避人为误操作，保障试验条件统一。

 广皓天 IGBT 功率模块冷热冲击试验箱