两箱风冷冷热冲击箱 触摸屏多段程序设定
用途
本设备面向电子元器件、半导体IC、车规传感器、PCB、塑胶五金、锂电小模组、光伏接线盒与航天小件，在高温室（+60~150℃）与低温室（-70~-10℃）间借气动提篮快速移送，做极温骤变冲击，考核焊点开裂、塑壳脆裂、密封失效、液晶乱码、胶层脱粘等热应力损伤。两箱结构令高低温室各自蓄能，提篮切换即冲击，比单箱升降温快得多，覆盖IC封装厂出检、车电Tier1应力筛选、材料室配方冷热循环三类场景。
使用说明
触屏建多段程序：设高温驻留、低温驻留、提篮切换方式（自动/手动）、循环次数与间隔；典型按GB/T 2423.22设-40℃/30min↔150℃/30min循环。试样装提篮不超容1/3、禁贴壁，带缆件经引线孔外接；运行中勿开主门，防凝露与冷伤。冲击完自动回常温防结霜。可USB存曲线、RS485上传，支持停电续程。
安装调试方法
置通风室内，5~35℃、湿度≤85%RH，后留≥80cm散风、两侧≥60cm，地平承重够；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω。就位调平→通电空载→校高低温室各点（GB/T 5170.2）→模拟提篮切换看转换≤10s、恢复≤5min→带标准铝样跑-40↔150℃三循环核损伤→出调试单。维护清冷凝器、校铂电阻、紧门封。
满足标准
GB/T 2423.22（IEC 60068-2-14）、GB/T 10592、GB/T 5170.2、GJB 150.5A、GJB 360B方法107、MIL-STD-202G方法107G、MIL-STD-810G方法503.5、JIS C 60068-2-14、JESD22-A101-A。空载温度均匀度≤±2℃、波动≤±0.5℃、冲击转换≤10s、恢复≤5min，满足电子、车电、半导体在两箱风冷骤变下的可靠性复现。
两箱风冷冷热冲击箱 触摸屏多段程序设定
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