工业冷热冲击试验箱 80L 腔体高低温交变
用途
本设备面向电子半导体（IC、PCB、电容）、汽车电子（ECU、传感器、车灯）、塑胶金属件、光伏组件与通讯模块，在高温储热区（+60~+150℃）与低温储冷区（-40~0℃）间通过风门快速切换气流，使80L测试腔样品承受瞬时高低温交变，考核热胀冷缩引发的焊点开裂、塑壳微裂、密封失效、参数漂移。三箱结构样品全程静置，免提篮位移损伤，覆盖元器件厂ESS筛选、整机厂可靠性例试、检测中心委托试验三类场景。
使用说明
触屏编程式：设高温暴露、低温暴露、驻留时间、风门切换时间与循环数。样品置不锈钢架，距风道口≥10cm，占腔≤1/3，禁叠压挡风；带载样经φ50mm穿线孔接外电源。运行中观窗监看，禁开门干预；切换期声光提示。循环完回常温区再取件，可接记录仪存温变与电阻曲线，断电续跑。
安装调试方法
落位室内通风平整地，周留≥80cm（背≥100cm），环境5~35℃、湿度≤85%RH，禁阳光直射与易燃物；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω，水冷型另接冷却塔。就位调平→接电与排水→通电空载→按GB/T 5170.5与JJF 1101校高低温区及测试腔九点温场→实测风门切换≤5s、恢复≤5min→带标准铝锭跑-40℃↔+125℃五循环看温偏→出调试单。维护清滤网、校PT100、紧门封。
满足标准
样品试验：GB/T 2423.1/2/22（eqv IEC 60068-2-1/2/14）、GJB 150.3A/4A/5A、GJB 360B、MIL-STD-810H、ISO 16750-4、JESD22-A104、IPC-TM-650 2.6.6B；设备本体：GB/T 10592、GB/T 10589、GB/T 11158、GB/T 5170.2/5、JJF 1101-2019。空载温度均匀度≤±2℃、波动度≤±0.5℃、切换≤5s、恢复≤5min，满足80L腔体在高低温交变下的热冲击复现。
工业冷热冲击试验箱 80L 腔体高低温交变
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