广皓天车规 MCU 冷热冲击试验箱，采用吊篮移动式两箱结构，面向车规微控制器 MCU 开展温度交变可靠性验证。模拟整车昼夜温差、冷热骤变工况，考核芯片、封装、焊盘耐受能力，筛查虚焊、封装开裂、参数漂移失效，满足 AEC‑Q100 车规测试要求，支持工装、设备配置非标定制。

三箱式高低温温度冲击试验 80L 皓天TSD-80F-3P采用经典的三箱式静态测试结构。其设计包含一个独立测试箱、一个高温蓄热箱和一个低温蓄冷箱。测试时，待测样品静止放置于测试箱内，通过高性能风机与特殊设计的风道阀门，将预先储存好的高温或低温气流快速导入测试区，从而在样品上实现剧烈的温度冲击。这种方式避免了移动样品带来的振动干扰，特别适合测试连接器、PCB板、模块组件等产品。

高低温冲击试验箱 皓天TSD-80F-3P采用经典的三箱式静态测试结构。其设计包含一个独立测试箱、一个高温蓄热箱和一个低温蓄冷箱。测试时，待测样品静止放置于测试箱内，通过高性能风机与特殊设计的风道阀门，将预先储存好的高温或低温气流快速导入测试区，从而在样品上实现剧烈的温度冲击。这种方式避免了移动样品带来的振动干扰，特别适合测试连接器、PCB板、模块组件等产品。