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  • TEB-225PF快速温变试验箱 电子元器件可靠性测试

    快速温变试验箱 电子元器件可靠性测试- 70℃至 150℃,专为集成电路、芯片、电容电阻、传感器、汽车电子等各类电子元器件开展可靠性验证设计,可模拟产品仓储、运输、使用过程中温度骤变工况,完成温度循环、环境应力筛选、加速老化等试验,匹配 GB/T2423.22、JEDEC JESD22-A104 等行业检测标准。设备采用复叠式低温制冷系统与智能可编程触控控制器,支持线性、非线性两种温变速率调节

    更新日期:2026-07-11
    型号:TEB-225PF
    厂商性质:生产厂家
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