三箱式冲击试验箱胎压传感器开裂测试采用高/低/测试三区静态结构，胎压模块固定不动，靠气动风门切冷热气流做-40℃↔85℃极速冲击，暴露塑封CTE失配、焊点疲劳与壳体微裂。配SUS304内胆、蓄热蓄冷双仓、PID程式控，贴合ISO 16750-4、IEC60068-2-14与AEC-Q103，适用于TPMS研发摸底与产线批次开裂筛选

可程式高低温冲击箱射频模组漂移测试采用三箱式静态腔，模组固定不动靠风门切高低温气流，规避吊篮振动对射频电路干扰。-70~150℃宽域冲击，转换≤10s、恢复≤5min，程控驻留与循环次数，贴合GB/T2423.22、IEC60068-2-14与JESD22-A104。在冲击中留Φ引线法兰接VNA，抓功放增益、频偏、回损瞬态漂移，适用于5G模组与车载射频单元加速筛选

三箱式冷热冲击试验箱晶振光耦漂移测试采用高低温蓄能区与中间静止测试区分离结构，靠气动风门切流完成-40~150℃骤变，样品不位移、零机械振动。测试区留多路引线法兰，可边冲边测晶振频率与光耦CTR漂移，贴合IEC60068-2-14、JESD22-A106与GB/T2423.22，适用于通信晶振、车规光耦做温度剧变下的参数稳定性筛查

冷热冲击试验箱陶瓷基板铜箔起翘为AMB、DBC功率基板做高低温瞬时冲击，样品静置三箱不位移避振。SUS304内胆+硅橡胶门封，触屏编-55℃×30min↔125℃×30min循环200次，USB导曲线，预存IEC 60068-2-14段

高低温冲击试验箱连接器镀层起皮验证，用三箱式-40~125℃极速切换模拟昼夜与启停温变，专看排针、端子、板对板连接器的镀镍/镀金层起皮、剥落、露铜。配显微镜与毫欧表，循环后判接触电阻漂移，适配电连接器厂镀层来料筛查与车规验证

两箱高低温冲击试验箱车载雷达偏移测试用提篮在高低温腔间瞬移，做-40℃↔+85℃极温冲击，逼出天线微变形、FOV偏移、校准系数漂移。雷达按实车15°仰角装尼龙架，驻留期读测距/测角，依ISO 16750-4、GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14，是智驾传感器入厂检设备