储PCS 元器件冷热冲击试验箱，面向PCS内部IGBT模块、直流支撑电容、电流传感器、驱动板及风扇电源等零部件验证。提篮式结构实现高低温室快速切换，转换≤10s、恢复≤5min，覆盖-55℃~+125℃（GJB 360B）及-65℃~+150℃宽温区，支持引脚通电测Vf/ESR。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、GJB 360B及JESD22-A104，适配储能P

储能变流器元器件冷热冲击试验箱面向PCS内部IGBT模块、薄膜电容、电流传感器及驱动板卡验证，采用提篮升降两箱结构，转换≤10s、恢复≤5min，覆盖-40℃~+125℃车规与-65℃~+150℃宽温区，支持功率端子带电监测。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、IEC 60749-26及GB/T 34133等标准，适配储能PCS厂、功率半导体厂及第三方检测

电容电阻冷热冲击试验箱（两箱式）面向贴片电容、薄膜电容、线绕/薄膜电阻等被动元件可靠性验证，采用提篮式两箱结构，吊篮往复切换实现≤10s转温、≤5min恢复。覆盖-55℃~+125℃及-65℃~+150℃宽温区，支持引脚通电测容值/阻值漂移。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、MIL-STD-883及JESD22-A104，适配电容电阻厂、车规元件线及第三方实验室ESS筛选

逆变器PCB电路板冷热冲击试验箱（两箱式）面向光伏/储能逆变器控制板、功率驱动板及DC-DC模块基板可靠性验证，采用提篮式两箱结构，吊篮转换≤10s，恢复≤5min，覆盖-40℃~+85℃及-65℃~+150℃温区，支持在线通电测阻值/信号。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、IEC 61215及IPC-9701等标准，适配逆变器厂、PCBA代工厂与第三方实验室筛选

功率IGBT冷热冲击试验箱（两箱式）面向IGBT模块、SiC功率器件及逆变封装单元可靠性验证，采用提篮式两箱结构，伺服驱动吊篮在高低温室间快速转移，转换≤10s、恢复≤5min。覆盖-55℃~+150℃（车规）及-65℃~+180℃宽温区，支持Vce/Vf结温在线监测。

旁路二极管冷热冲击试验箱（两箱式）专为光伏组件旁路二极管、肖特基整流器件及微型封装半导体可靠性验证设计，采用提篮式两箱结构，通过伺服驱动吊篮在高低温室间快速切换，转换时间≤10s，恢复时间≤5min。覆盖-40℃~+85℃（IEC 61215 TC200）及-65℃~+150℃宽温区，支持引脚通电监测结温与压降。符合GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、IEC 61215及IEC