耦合胶老化 恒温恒湿试验箱专测光收发模块、光纤耦合组件与光学封装件的温湿循环可靠性。2098%RH、-40+150℃，跑 -40℃ ↔ +85℃ 温湿交变与 85℃/85%RH 湿热段，逼出紫外固化胶吸湿黄变、折射率漂移、粘接界面位移导致的耦合失配与插损劣化。支持模块加电运行，可在线监测发光功率与接收灵敏度，适配光模块厂可靠性验证与运营商到货抽检。

耦合胶老化 恒温恒湿试验箱

性能

光模块的失效往往是胶的问题，不是芯片的问题。 光学耦合靠紫外固化胶把透镜、光纤阵列与芯片固定在对准位置上，胶体在吸湿后发生两件事：一是体积膨胀与折射率变化，改变光路；二是粘接界面结合力下降，在温度循环的剪切应力下产生微位移。两者最终都表现为插损增大、耦合效率下降。这类失效在常温下几乎无法复现，必须靠湿热交变把水分子驱进胶层内部。

性能

光模块的失效往往是胶的问题，不是芯片的问题。 光学耦合靠紫外固化胶把透镜、光纤阵列与芯片固定在对准位置上，胶体在吸湿后发生两件事：一是体积膨胀与折射率变化，改变光路；二是粘接界面结合力下降，在温度循环的剪切应力下产生微位移。两者最终都表现为插损增大、耦合效率下降。这类失效在常温下几乎无法复现，必须靠湿热交变把水分子驱进胶层内部。

重点考核四类失效。 一是耦合胶吸湿后黄变、透光率下降；二是胶层体积变化导致的耦合位移与插损劣化；三是粘接界面在温循剪切应力下分层；四是金属化镀层与焊点在湿热下腐蚀，导致接触电阻增大。

支持加电在线监测。 箱体引线孔可引出光模块的供电与通信线，模块在循环中保持工作状态。箱外可接光功率计与误码仪，逐轮记录发光功率、接收灵敏度与误码率，形成随循环次数变化的光学性能曲线——这是判断耦合胶是否失效最直接的证据。

温湿度控制指标。 温度偏差 ≤±2℃、均匀度 ≤2℃、波动度 ≤±0.5℃；湿度 20~98%RH，波动度 ≤±2%RH，偏差 ≤±3%RH（＞75%RH）。双层防雾观察窗与硅胶加热门框，高湿段不向样品表面凝露滴水。

系统

箱体结构。 内箱 1.0mm SUS#304 或 SUS#316 不锈钢板圆弧过渡满焊；外箱 1.2mm 冷轧钢板加表面烤漆防锈；保温层 100mm 硬质聚氨酯泡沫（带阻燃剂）加超细玻璃纤维。视窗三层电热耐热高清钢化玻璃，带自动防结霜防凝露调节。

温湿系统。 泰康 / 谷轮全封闭低温压缩机，复叠制冷配 R404a / R23 制冷剂；翅片式全铜蒸发器兼除湿器；SWEP 板式换热器。蒸汽加湿配冷凝除湿，采用去离子水，避免水质杂质污染光学件表面。

风道。 强制风道循环上出下回，多点 PT100 回风补偿，温度均匀度 ≤2℃。

控制系统。 7 英寸全高清触控屏，程式容量最大 100 个 PATTERN、共 10000 SEGMENTS，支持定值与程式运行，具备断电程序记忆功能，复电后自动接续执行。通讯接口 RS-232、USB、RJ45，可导出 CSV 曲线。

使用要点。 光学件表面严禁用手触摸或用含硅清洁剂擦拭；试验用水须为去离子水或纯水；模块带电试验时须确认引线孔密封良好，防止高湿段凝露沿导线进入箱内。

安全保护。 超温保护、缺水保护、漏电保护、压缩机超压 / 过流 / 过热保护、风机电机过热保护，顶部 LED 三色报警灯。

耦合胶老化 恒温恒湿试验箱

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