连接器冷热冲击箱 端子温度冲击老化设备
用途
本设备供电子连接器与端子类零件：排针排母、板对板、线对板、汽车线束端子、高压连接器、航空插头、USB/Type-C与RJ45接口，在高温槽（+60~200℃）与低温槽（-65~0℃）间靠气动风门切换冷热气流，样品驻留测试区不移动，考核塑壳开裂、端子镀锡剥落、铜合金弹片变形、密封胶失效与插拔力衰减。相比整机级温箱，它把试样缩小到“接触界面"这一失效高发点，覆盖连接器厂出货全检、线束厂来料温冲、车厂ECU接口DV三类现场。
使用说明
触屏编程：设高温驻留、低温驻留、风门切换方式（三箱静止/两箱吊篮）、循环数；三箱切换≤30s，两箱转换≤10s。试样用夹具悬空固定，朝风道口不遮挡，禁超测试区容积1/3；带载端子经Φ50mm穿墙孔接微欧计与导通讯号。运行中锁门互锁，温超界即报警断加热；停测回25℃再取件。可U盘存温曲与接触电阻趋势，支持断电续跑。
安装调试方法
就位承重地面，背留≥100cm散热，环境5~35℃、湿度≤85%RH；380V三相五线独立空开接地。开箱就位调平→接气源（气动风门0.5~0.7MPa）→通电空载→按GB/T 5170.2校高低温槽九点偏差与测试区恢复时间→带端子样跑-40℃↔125℃ 50循环看接触电阻增量→出调试单。维护含清滤网、校PT100、测风门气缸行程、紧观察窗电热膜。
满足标准
样品法：GB/T 2423.22（eqv IEC 60068-2-14）、GJB 150.5A、MIL-STD-810H、MIL-STD-202G Method 107、JESD22-A104、EIA-364-32、IEC 60512-11-1、GB/T 13556、QC/T 1064、ISO 16750-4；箱体验收：GB/T 5170.2、GB/T 10592、JJF 1101。空载高温偏差≤±2℃、低温≤±2℃、恢复≤5min，满足连接器与端子在静止无移位条件下的冷热冲击老化复现。
连接器冷热冲击箱 端子温度冲击老化设备
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