快速换温冷热冲击箱 三腔独立控温机型
用途
本机面向半导体封装、BGA/CSP、车规MCU、IGBT、光纤器件、航空连接器、金属合金样件，在三腔独立蓄热/蓄冷/测试结构下，通过风门换向把高温或低温气流瞬间导入测试腔，做温度冲击与高低温贮存考核。样品全程静止，规避吊篮升降的磕碰与振动干扰，可同步接外置电测线监焊点阻抗、漏电流、信号失真，暴露热胀冷缩引发的封装开裂、内层脱粘、触点弹跳。覆盖芯片封测厂出货筛、车企三电件环境应力筛选、航电元器件定型三类现场。
使用说明
触屏编循环：设高温驻留、低温驻留、转换时间（≤10s）、循环数；测试腔样件用绝缘夹具固定，引线经侧孔接采集仪，禁堵风道。启动后风门自动切高/低温腔，常温腔仅作过渡回温用。运行中不可手动开门，超温即声光报警断加热；循环结束回25℃再取件。支持USB存温曲线与报警日志，断电后续跑未完循环。
安装调试方法
就位通风平整地面，周留≥80cm，环境5~35℃、湿度≤85%RH；380V三相五线独立空开可靠接地。开箱清点三腔风门、压缩机、触摸屏→就位调平→通电空载→按GB/T 5170.2校高/低/测试三腔九点温场→实测风门转换时间≤10s与测试腔温度恢复≤5min→带芯片假件跑50次循环核阻抗曲线→出调试单。维护含清防尘网、校铂电阻、紧风门密封、查压缩机延时启动。
满足标准
GB/T 2423.1/2/22、IEC 60068-2-1/2/14、GJB 150.3A/4A/5A、MIL-STD-810H、RTCA DO-160、JESD22-A104、GB/T 5170.2、GB/T 10589/11158。空载测试腔温度均匀度≤±2℃、波动度≤±0.5℃、转换≤10s、恢复≤5min，带载通电冲击数据可追溯，满足精密元器件在三腔独立控温下的快速换温冲击复现。
快速换温冷热冲击箱 三腔独立控温机型
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