225L 两箱冷热冲击箱 -55~150℃交变试验机
用途
本设备面向电子半导体、汽车电子、新能源电池、航空航天零件与高分子金属件，在高温槽（+60~+180℃）与低温槽（-70~-10℃，本机冲击段-55~150℃）之间借气动提篮快速转移样品，施加强制温度阶跃冲击，考核IC封装微裂、PCB焊点脆断、传感器引线脱落、车灯密封胶开缝、电芯极耳疲劳与涂层剥落。两箱结构比三箱少过渡室，切换快、占地小，覆盖研发缺陷激发、产线ESS筛选、出货军标/GJB抽查三类场景。
使用说明
触屏编程式：设高温驻留、低温驻留、提篮切换时间（≤10s）、循环数；样品固于不锈钢提篮，禁超载（225L标称总重按机型上限，轻小件加罩防飞），禁叠挡风。运行前空压机供气，切换中禁开门；试验结束提篮回常温区缓回温再取件，防结霜凝露。可接数据仪记温度曲线与样品电参，支持断电续存。
安装调试方法
就位平整地面，周留≥60cm（背散热≥80cm），环境5~35℃、湿度≤85%RH，远离热源强磁；380V三相五线独立空开，接地电阻≤4Ω。就位调平→接气源与排水→通电空载→校高/低温槽各自九点温场（GB/T 5170.5）→测提篮转换时间≤10s、恢复时间≤5min→带标准金属块跑-55↔150℃三循环核均匀度≤±2℃→出调试单。维护清冷凝器、校传感器、查气动密封。
满足标准
GB/T 2423.1/2/22（试验A/B/N温度变化）、IEC 60068-2-14、GJB 150.5A-2009、GJB 360B-2009、MIL-STD-810H、GB/T 10589、GB/T 11158、GB/T 10592、JIS C 60068-2-14、EIA-364-32。空载温度偏差≤±2℃、波动度≤±0.5℃、均匀度≤±2℃、转换≤10s、恢复≤5min，满足电子、汽零、军工样在-55~150℃骤变冲击下的可靠性复现。
225L 两箱冷热冲击箱 -55~150℃交变试验机
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