49L 超低温冷热冲击箱 -65℃低温冲击试验机
用途
本设备用于电子元器件、半导体IC、PCB基板、车规传感器、小型电池模组、塑胶密封件在极速高低温交替（-65℃↔+150℃）下的耐受性考核，借高温蓄热区、低温预冷区与静止测试区三箱风门切换，模拟户外昼夜剧变、运输寒暑突变、航天进出影区等工况，检出热胀冷缩引发的裂纹、脱焊、屏裂、密封失效与电参漂移。49L容积适配研发小样批量比对、来料抽检、第三方检测前处理，样品体积建议不超内箱1/3以保障气流均匀。
使用说明
触屏编程式：设高温驻留、低温驻留、常温过渡与循环次数，两箱提篮式亦可设高温↔低温直冲。样件用不锈钢篮或支架固定，禁超容1/3、禁堵风道；带电缆样经Φ50mm测试孔接外采。风门切换≤10s，恢复≤5min。运行中警停先看报警码，结束回常温段再开门防结露结冰。支持RS232/485存温曲与循环计数。
安装调试方法
室内通风干燥，5~35℃、湿度≤85%RH，后留≥80cm散热、侧顶≥60cm，远离热源强磁；380V三相五线独立空开，接地<4Ω，电压波动超±5%加稳压。就位水仪调平→锁脚轮→接电源与测试孔→通电空载跑-65℃↔+150℃循环，校转换≤10s、恢复≤5min、均匀度≤±2℃→带标准样跑3循环核数据→出调试单。查冷媒接口无漏、清冷凝器、校PT100。
满足标准
样品试验：GB/T 2423.22（eqv IEC 60068-2-14）、GB/T 2423.1/2、GJB 150.5A、MIL-STD-810H方法503、ISO 16750-4、EIA-364-59；设备技术：GB/T 10592、GB/T 10589、GB/T 5170.2、GB 11158；计量溯源：JJF 1101。空载温度波动≤±0.5℃、均匀度≤±2℃、恢复≤5min，满足小样骤温冲击与车规/军标摸底复现。
49L 超低温冷热冲击箱 -65℃低温冲击试验机
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