可编程三箱冷热冲击箱 循环次数自动计数
用途
本设备用于电子元器件、半导体IC、PCB、车规ECU、动力电池组件、光伏接线盒、塑胶与金属材料，在高温↔低温快速交替（三箱静止式，测试区不动，风门切高/低温气流）下考核焊点开裂、封装脱层、引线脆断、密封失效与参数漂移。循环次数自动计数是核心卖点：每完成一次高冲+低冲计1 cycle，屏显剩余/已跑次数，达设值自动停并留记录，解决手写计数漏记、超跑浪费工时问题。覆盖芯片厂AEC-Q100摸底、汽零厂DV/PV、第三方检测批次比对三类场景。
使用说明
7寸触屏编程式：设高温驻留、低温驻留、温度转换时间（≤10s）、恢复时间（≤5min）、总循环数（1~9999）。样品置测试区搁架，接引线孔出线，禁超载荷与发热过大件。启动后风门自动切换，屏显实时温度曲线与已计循环。到数自动停机，亦可设段跳与保持。运行中禁开测试门，防冷烫灼伤与温场乱。可USB导出次数与温时日志。
安装调试方法
就位通风平整地面，周留≥60cm（背≥80cm），环境5~35℃、湿度≤85%RH；供380V三相五线独立空开，接地≤4Ω。开箱就位调水平→接电源与排水→通电空载→按GB/T 5170.2校高/低温区与测试区九点温场→实切风门测转换时间与恢复时间→跑10次空冲验自动计数清零与停机→出调试单。维护含清冷凝器、校铂电阻、紧门封、查风门气缸。
满足标准
GB/T 2423.1/2/22、IEC 60068-2-1/2/14、GJB 150.5A、GJB 360B、MIL-STD-202G、MIL-STD-810H、EIA-364-32、JESD22-A104、QC/T 17、GB/T 10589/10592、GB/T 5170.2。温度转换≤10s、恢复≤5min，满足电子、汽零、光伏件在三箱冷热冲击下的自动计数可靠性复现。
可编程三箱冷热冲击箱 循环次数自动计数
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