两槽式左右结构高低温冲击箱
用途
本设备采用左右双槽独立蓄温、中部样品篮由伺服或气动驱动水平横移的结构，专用于电子元器件（IC、PCB、传感器、继电器）、汽车电子（ECU、车灯、线束端子）、光伏组件、航空航天小件及塑胶五金件，在高
温与极低温快速交替下考核封装开裂、镀层剥落、焊点虚焊、密封失效与电气参数漂移。相较上下提篮式，左右结构无垂直掉落风险、大件重件不易位移，且低层高车间也能进，覆盖芯片厂可靠性筛查、车企零部件DV、第三方检测委托测试三类场景。
使用说明
触屏或PLC编程序：设高温槽（+60~+200℃）、低温槽（-70~0℃）、各槽驻留时长与循环次数，篮移时间≤10s。样品装不锈钢吊篮，限重按机型（常规5~20kg），禁超篮沿、禁挡风道；侧面测试孔可接带电监测线。启动后双槽预温待稳，按程控横移冲击，结束回常温取件。运行中禁开槽门，超温与门联锁自动断加热，可USB/RS485存曲线。
安装调试方法
就位通风平整地面，左右两侧及背面留≥60cm（背散热≥80cm），环境5~35℃、湿度≤85%RH，远离热源强磁；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω。开箱清点→调平→接电源与可选水冷管→通电空载→按GB/T 5170.2校双槽九点温场→实测篮移时间≤10s、恢复时间≤5min→带铝锭标样跑-40℃↔+85℃三循环核均匀度→出调试单。维护含清冷凝器、校铂电阻、紧门封、查滑轨润滑。
满足标准
样品试验：GB/T 2423.22-2012（eqv IEC 60068-2-14）、GJB 150.5A-2009、MIL-STD-810H、ISO 16750-4、JESD22-A104；箱体本体：GB/T 10592-2023、GB/T 5170.2。空载温度均匀度≤±2℃、波动度≤±0.5℃、篮移≤10s、恢复≤5min，满足两箱法转换≤60s要求，可复现芯片、车件、光伏件在左右横移式高低温冲击下的失效筛选。
两槽式左右结构高低温冲击箱
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