气体式冷热冲击试验箱
用途
本设备以空气为传热介质，借高温区、低温区与测试区独立蓄能，经气动风门切换冷热气流，使样品在数秒至十余秒内经历高
温与极低温交替，考核因热胀冷缩引发的焊点疲劳、塑封分层、胶层脱粘、密封漏气、光学镀膜龟裂与金属端子变形。覆盖半导体IC、FPC、传感器、车载雷达/中控、锂电池电芯与PACK、光伏接线盒、航空线缆连接器、军工密封组件、工程塑料件等对象，适配芯片厂可靠性筛选、Tier1车电验证、第三方检测机构出认证报告三类业务。
使用说明
触屏编多段程：设高温暴露、低温暴露、驻留时间、循环数与风阀切换方式；三箱式样件静止置测试区，两箱式由提篮在高低槽间转移。试样占容≤1/3，禁堵风道，带载件经测试孔接外线。运行中不可强行开门，冲击结束自动回常温防结霜；可接RS485存温变曲线与样品电参。超温、过流、气压异常即报警切加热。
安装调试方法
就位于平整承重地面，周留≥60cm、背部≥80cm散热，环境5~35℃、湿度≤85%RH，远热源与强电磁；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω。就位调平→接纯水（若带湿选项）/排水→通电空载→校高温槽、低温槽与测试区多点温场（按GB/T 5170.5）→设-40℃↔150℃空冲击循环看切换≤15s与恢复时间→带标准样跑一周期核数据→出调试单。日常清冷凝器、校PT100、紧门封、查冷媒压。
满足标准
基础通用：GB/T 2423.1/2/22（eqv IEC 60068-2-1/2/14）、GB/T 10592；军工：GJB 150.5A、GJB 360B；汽车电子：ISO 16750-4、AEC-Q100、QC/T 413；半导体：JESD22-A104、MIL-STD-883 Method 1010；箱本体参考GB/T 5170.2/5。温度均匀度≤±2℃、波动≤±0.5℃、切换≤15s（三箱气切）或≤60s（两箱转移），满足芯片、车电、光伏件在气体介质下的冷热冲击复现。
气体式冷热冲击试验箱
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