提篮式冷热冲击试验箱品牌
用途
本设备用两箱提篮结构，高温槽与低温槽独立蓄温，样品置不锈钢提篮，由电机或气缸驱动在高低温槽间快速往返，实现瞬时温度冲击，专测电子半导体（IC、电容、PCB）、汽车电子（ECU、传感器、车灯）、航空航天模块、塑料橡胶金属件在极温骤变下的开裂、脱焊、微裂纹与参数漂移。相较三箱式，提篮式转换时间更短、热应力更陡，适合环境应力筛选（ESS）与军规鉴定，覆盖元器件厂出货筛选、整机厂可靠性例试、第三方检测温度冲击委托三类场景。
使用说明
触屏编多段程：设高温暴露、低温暴露、驻留时间、循环次数；提篮升降≤10秒。样品用夹具悬固篮内，禁超篮容1/3、禁挡风道；开门自动断风机与提篮电源。运行中不可手动伸入手臂防烫伤冻伤；冲击完先回常温区再取件。可接数据仪记温变曲线与样品电阻，支持断电续跑。
安装调试方法
落位室内干燥通风处，前后留≥1m散热，环境5~35℃、湿度≤85%RH，禁阳光直射与易燃物；380V三相五线独立空开，接地≤4Ω，水冷机型另配冷却塔与纯水回路。就位调平→接电源与排水→通电空载→校高低温槽各自温场（按GB/T 5170.5与JJF 1101）→实测提篮转换时间≤10秒、恢复≤5min→带标准样跑-40℃↔85℃五循环看焊点→出调试单。日常紧门封、校铂电阻、清冷凝器。
满足标准
GB/T 2423.1/2/22、IEC 60068-2-1/2/14；GB/T 10592、GB/T 10589、GB/T 11158；GJB 150.3A/4A/5A、GJB 360B；MIL-STD-202G/810H；JESD22-A104、JESD22-A106、IPC-TM-650 2.6.6B；JJF 1101-2019。空载温度偏差≤±2℃、波动度≤±0.5℃，提篮转换≤10秒、恢复≤5分钟，满足芯片、车电、军工件在提篮两箱法下的热冲击复现。
提篮式冷热冲击试验箱品牌
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