温循老化试验箱 可设定周期耐久测试箱体
用途
本设备用于电子元器件、PCB组件、车规ECU、传感器、连接器、锂电模组、LED与塑胶件，在设定温度区间反复升降温的耐久应力下，暴露虚焊、锡裂、封装分层、胶黏剂疲劳、液晶分层、金属端子蠕变等隐患。核心是“周期可设、次数可计、长期无人值守"：用户编好高温值、低温值、升降温速率、保温时间、总循环数，箱子自动跑完几百到几千圈并记录曲线，用来做加速寿命试验（ALT）与高加速寿命试验（HALT）。一台顶“高低温箱+人工倒班记圈"，覆盖半导体封装厂、汽车电子Tier1、储能与家电厂可靠性例检三类现场。
使用说明
触屏或PLC建多段程：低温TA→保温t1→以设定速率升到TB→保温t1→回常温，循环N次。样品与箱壁留≥5cm、相互不叠压，带电试样走穿墙端子接外部电源/采集；温变速率按标准选1/3/5/10℃/min。运行中不可频开箱门，防温场扰动；全部循环结束回25℃/50%RH再取样做外观与电测。支持U盘/RS485存温度曲线与循环计数，掉电后续跑不丢圈数。
安装调试方法
置于通风平整地面，周留≥60cm、背部散热≥80cm，环境5~35℃、湿度≤85%RH；380V三相五线独立空开可靠接地。开箱就位调水平→接主电源与通讯→通电空载→按GB/T 5170.5布九点校-40℃、85℃、125℃三工况→编“−40↔85℃、5℃/min、100循环"试跑看过冲与均匀度→出调试单。日常维护含清滤网、校PT100、查压缩机高低压、紧门封、备UPS防掉电。
满足标准
通用温变：GB/T 2423.22（eqv IEC 60068-2-14）、GB/T 10592、GB/T 5170.2/5；半导体：JEDEC JESD22-A104、MIL-STD-883 Method 1010；汽车电子：AEC-Q100/Q200、ISO 16750-4；航空：GJB 150.3A/5A、MIL-STD-810H、RTCA DO-160；电池：GB/T 31485、IEC 62660-2。空载温度均匀度≤±2℃、波动≤±0.5℃、温变速率容差±20%，循环次数与停留时间可追溯，满足电子、汽零、新能源在设定周期下的温度循环耐久复现。
温循老化试验箱 可设定周期耐久测试箱体
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