车载MCU高加速温湿度应力箱
用途
本设备锁定车规级微控制器（MCU）、SOC、毫米波雷达芯片、域控ASIC及配套EEPROM，在130℃/85%RH/2.3atm高压不饱和蒸汽下做高加速温湿度应力筛选，快速激发塑封微孔、引线框腐蚀、钝化层离子迁移、键合线脱落与阈值电压漂移等隐性失效。兼容BHAST（带80%额定偏压）与UHAST（无偏压）两种模式，覆盖芯片厂AEC-Q100认证、Tier1来料批次放行、整车厂ECU器件选型摸底三类业务，把传统85/85千小时THB压缩到96~200小时出结论。
使用说明
触屏或PLC编程，选AEC-Q100 Grade定温压：Grade1常用130℃/85%RH/2.3atm/168h，Grade0用140℃/200h。MCU贴耐高温测试板插绝缘支架，引脚经穿墙端子接外置电源与漏电流表，禁裸放贴壁。升压前先稳温湿，试验末段缓泄压至常压再开门，防试样暴沸与凝露。全程记温度/压力/漏电流曲线，支持断电保数据。
安装调试方法
落位平整承重地面，周留≥80cm检修区，环境5~35℃、湿度≤85%RH；供380V三相五线独立空开，带接地。开箱清点压力容器、蒸汽发生器、偏压柜→就位调平→接纯水与排汽管→通电空载→校130℃/85%RH/2.3atm三点（温压对照JESD22-A110允差）→带车规MCU跑96h BHAST看漏电流基线→出调试单。定期换水箱滤芯、紧法兰螺栓、校压力变送器。
满足标准
车规与半导体：AEC-Q100、AEC-Q101、JESD22-A110（HAST）、JESD22-A118（UHAST）、JESD22-A102（PCT）、JESD22-A108；国际电工：IEC 60068-2-66、IEC 60749-4；国标：GB/T 2423.40、GB/T 4937.4；设备安全：GB/T 150压力容器、MIL-STD-883 Method 1004。温度波动≤±0.5℃、湿度≤±3%RH、压力≤±0.005MPa，带偏压连续运行数据可追溯，满足车载MCU在Grade0~3各档HAST/UHAST工况复现。
车载MCU高加速温湿度应力箱
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